Keynotes & Papers

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2025-Full-chip Voltage Contrast Inference Using Deep Learning; You Only Look Once: Voltage Contrast (YOLO-VC)

Voltage Contrast

,

e-Beam

Keynote Presentation

2024 – Test Innovations: Crossing the Chasm to a Chiplet Ecosystem at 3D Systems Summit

Chiplet ecosystem

,

DFF

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AI/ML

,

제조 분석

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2024 – Expediting manufacturing safe launch with Big Data AI/ML analytic solutions on the cloud

Yield Management

,

Manufacturing

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EDTM 2022 - 검사 및 모니터링을 위한 새로운 전자빔 기술

e-Beam

,

Yield Management

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EDTM 2022 - BEOL 오버레이 및 공정 마진 특성화를 위한 새로운 방법

Design for Manufacturing

,

Voltage Contrast

Published Paper

나노츠 2021 - 다이렉트스캔을 통한 고급 고처리량 전자빔 검사

Design for Manufacturing

,

프로세스 제어

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Voltage Contrast

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APCSM 2020 - 머신 러닝과 고급 이상값 탐지를 결합하여 품질을 개선하고 비용을 절감하는 방법

AI/ML

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Data

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IEEE S3S 2019 - FDSOI 기술을 위한 특성화 과제 및 솔루션

Yield Management

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IEEE JEDS 2019 - 새로운 메모리를 특성화하기 위한 단류 테스트 어레이의 설계 및 측정 요구 사항

Parametric Test

,

Characterization

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EDTM 2019 - 7nm 이하에서의 수율 및 신뢰성 과제

Design for Manufacturing

,

Characterization

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EDTM 2019 - 새로운 메모리 특성화를 위한 단류 테스트 어레이의 설계 및 측정 요구 사항

Emerging Memories

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Characterization

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IEEE 트랜잭션 2015 - 핀펫 기술 특성화를 위한 접점 체인

Characterization

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Yield Management