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Keynotes & Published Papers Tagged: Design for Manufacturing

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EDTM 2022 - BEOL 오버레이 및 공정 마진 특성화를 위한 새로운 방법
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나노츠 2021 - 다이렉트스캔을 통한 고급 고처리량 전자빔 검사
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EDTM 2019 - 7nm 이하에서의 수율 및 신뢰성 과제
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SPIE 2009 - 생존을 위한 간소화, 규범적 레이아웃으로 32nm 이상까지 수익성 있는 확장 보장
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SPIE 2009 - 일반 디자인 원단을 사용한 OPC 간소화 및 마스크 비용 절감
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IEEE 트랜잭션 2008 - 나노미터급 기술에서 트랜지스터 성능의 변화와 누설의 변화
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ISSM 2006 - 핫스팟 분석을 위한 리소 시뮬레이터의 빠르고 정확한 캘리브레이션 방법
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