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Keynotes & Published Papers Tagged: Yield Management
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Keynote Presentation
2025 – End-to-End Yield Management for Compound SEMI at CS Mantech
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2025 – End-to-End Yield Management for Compound Semiconductors Manufacturing
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2025-Product Design Enhancement with Test Structures for Non-Contact Detection of Yield Detractors
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2024 – Expediting manufacturing safe launch with Big Data AI/ML analytic solutions on the cloud
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EDTM 2022 - 검사 및 모니터링을 위한 새로운 전자빔 기술
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IEEE S3S 2019 - FDSOI 기술을 위한 특성화 과제 및 솔루션
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IEEE 트랜잭션 2015 - 핀펫 기술 특성화를 위한 접점 체인
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AEC/APC 심포지엄 아시아 2009 - 강력한 계측 예측 모델의 온라인 배포
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SPIE 2009 - 생존을 위한 간소화, 규범적 레이아웃으로 32nm 이상까지 수익성 있는 확장 보장
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SPIE 2009 - 일반 디자인 원단을 사용한 OPC 간소화 및 마스크 비용 절감
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ISSM 2008 - FDC 데이터를 사용한 BEOL 파라메트릭 변동 제어
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