출판된 논문

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IEEE JEDS 2019 - 새로운 메모리를 특성화하기 위한 단류 테스트 어레이의 설계 및 측정 요구 사항

Characterization

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Parametric Test

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EDTM 2019 - 7nm 이하에서의 수율 및 신뢰성 과제

Characterization

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Design for Manufacturing

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EDTM 2019 - 새로운 메모리 특성화를 위한 단류 테스트 어레이의 설계 및 측정 요구 사항

Characterization

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Emerging Memories

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IEEE 트랜잭션 2015 - 핀펫 기술 특성화를 위한 접점 체인

Yield Management

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Characterization

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AEC/APC 심포지엄 아시아 2009 - 강력한 계측 예측 모델의 온라인 배포

FDC

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Yield Management

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SPIE 2009 - 생존을 위한 간소화, 규범적 레이아웃으로 32nm 이상까지 수익성 있는 확장 보장

Yield Management

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Design for Manufacturing

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SPIE 2009 - 일반 디자인 원단을 사용한 OPC 간소화 및 마스크 비용 절감

Yield Management

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Design for Manufacturing

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ISSM 2008 - FDC 데이터를 사용한 BEOL 파라메트릭 변동 제어

Yield Management

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FDC

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Predictive Learning

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IEEE 트랜잭션 2008 - 나노미터급 기술에서 트랜지스터 성능의 변화와 누설의 변화

Yield Management

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Characterization

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Design for Manufacturing

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ASMC 2007 - 규칙 앙상블을 사용한 수율 모델링

Yield Management

,

Predictive Learning

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ICMTS 2006 - 초고속 제품 웨이퍼 수율 모니터링을 위한 스크라이브 특성화 차량 테스트 칩

Yield Management

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Characterization

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ISSM 2006 - 핫스팟 분석을 위한 리소 시뮬레이터의 빠르고 정확한 캘리브레이션 방법

Design for Manufacturing

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Yield Management

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Characterization